《材料表征》课程教学大纲

一、课程信息

(一)基本信息

课程号:

课程中文名称:材料表征

课程英文名称:Physical Methods for Materials Characterizations

周学时:4

学  分:4

先修课程:固体物理、量子力学

建议教材:无

参考资料:

  • Physical Methods for Materials Characterization, P. E. J. Flewitt and R. K. Wild, Institute of Physics, 1993

  • Transmission Electron Microscopy, D. B. Williams and C. B. Carter, Plenum Press, 1996

  • Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R. F. Egerton, Springer, 2005

  • An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, J. F. Watts and J. Wolstenholme, John Wiley & Sons Ltd. 2003

  • Modern Raman Spectroscopy-A Pratical Approach, E. Smith and G. Dent, John Wiley & Sons Ltd. 2005

  • High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures, Pietsch et al., published as Volume 149 in the series: Springer Tracts in Modern Physics 2nd ed., 2004


(二)内容简介>300字)

《材料表征》课程介绍表征材料微观结构和化学组成的物理方法。主要包括以下内容:(1)粒子与材料的相互作用,由此得到各种分析方法的分析深度和探测范围;(2X射线衍射的运动学,对固体样品进行物相分析、测定晶胞参数和点阵的方法;(3)扫描电子显微的基本原理,相关的X射线能谱和波谱技术;(4透射电子显微的基本原理;(5)扫描隧道显微、原子力显微、压电力显微、Kelvin力显微等各种扫描力显微技术的基本原理和图像分析;(6Auger电子能谱、X射线光电子能谱、紫外光电子能谱、二次离子质谱等表面分析技术的基本原理和分析方法;(7Raman和红外光谱技术的基本原理。课程通过课堂多媒体演示、习题和上机操作等方法强调对各种表征技术基本原理的理解,力图让学生掌握解决实际问题的方法。


(三)内容简介(英文)(可选)


二、教学目标和学习要求(通过此课程学习,学生应该掌握的知识或者能力)

掌握材料组分和结构表征的基本原理和数据分析方法。


三、其他(其他教师认为学生应该知晓的事项)

无。