可见-近红外显微角分辨光谱检测系统ARM

可以测量材料微纳米尺度区域角分辨光谱

主要参数

测量波段：380-1700nm

探测范围

反射入射：-60°~60°（可见），-50°~50°（近红外）

透射入射：-50°~50°（可见），-50°~50°（近红外）

角分辨率：4°（可见）     6°（近红外）

空间范围：Ø10~200μm