一、课程信息
（一）基本信息
课程号：
课程中文名称：材料表征
课程英文名称：Physical Methods for Materials Characterizations
周学时：4
学 分：4
先修课程：固体物理、量子力学
建议教材：无
参考资料：
Physical Methods for Materials Characterization, P. E. J. Flewitt and R. K. Wild, Institute of Physics, 1993
Transmission Electron Microscopy, D. B. Williams and C. B. Carter, Plenum Press, 1996
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM, R. F. Egerton, Springer, 2005
An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, J. F. Watts and J. Wolstenholme, John Wiley & Sons Ltd. 2003
Modern Raman Spectroscopy-A Pratical Approach, E. Smith and G. Dent, John Wiley & Sons Ltd. 2005
High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures, Pietsch et al., published as Volume 149 in the series: Springer Tracts in Modern Physics 2nd ed., 2004
（二）内容简介（>300字）
《材料表征》课程介绍表征材料微观结构和化学组成的物理方法。主要包括以下内容：（1）粒子与材料的相互作用，由此得到各种分析方法的分析深度和探测范围；（2）X射线衍射的运动学，对固体样品进行物相分析、测定晶胞参数和点阵的方法；（3）扫描电子显微的基本原理，相关的X射线能谱和波谱技术；（4）透射电子显微的基本原理；（5）扫描隧道显微、原子力显微、压电力显微、Kelvin力显微等各种扫描力显微技术的基本原理和图像分析；（6）Auger电子能谱、X射线光电子能谱、紫外光电子能谱、二次离子质谱等表面分析技术的基本原理和分析方法；（7）Raman和红外光谱技术的基本原理。课程通过课堂多媒体演示、习题和上机操作等方法强调对各种表征技术基本原理的理解，力图让学生掌握解决实际问题的方法。
（三）内容简介（英文）（可选）
二、教学目标和学习要求（通过此课程学习，学生应该掌握的知识或者能力）
掌握材料组分和结构表征的基本原理和数据分析方法。
三、其他（其他教师认为学生应该知晓的事项）
无。
